推力試驗探針DMS-I20

20N推力試驗探針DMS-I20  

1N推力試驗探針DMS-I21

產(chǎn)品概述：

本套探針分別符合GB2099.1-2008標(biāo)準(zhǔn)中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗保護(hù)門內(nèi)的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗保護(hù)門內(nèi)的帶電部件及有加強保護(hù)插座的帶電部件是否被觸及。

技術(shù)參數(shù)

20N推力試驗探針HT-I20：探針部分3+0.03  0×1+0.015  0 ×80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力;

1N推力試驗探針HT-I21：探針部分Φ1+0.015  0 ×80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力  

使用方法

將探針端部接觸試樣，然后施力20N（1N），當(dāng)探針凸出端A-A面與B-B面平齊即可。

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推力試驗探針DMS-I20

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